Máy đo độ dày lớp phủ MiniTest 650F, nền từ tính, 0-3000 micromet.
Liên hệ
Tình trạng:Còn hàng
Hãng sản xuất:ElektroPhysik
Model:MiniTest 650F
Thông Số Kỹ Thuật
Hãng sản xuất : ElektroPhysik
Model : MiniTest 650F
Xuất xứ: ElektroPhysik - Germany.
- Thang đo: 0 μm – 3000 μm/120 mils.
- Phép đo bất kỳ: ± (2% giá trị đọc + 2 μm/0.08 mils).
- Bán kính cong nhỏ nhất: 5mm với bề mặt lồi. 25mm với bề mặt lõm.
- Diện tích bề mặt đo nhỏ nhất: ϕ 20mm.
- Độ dày nhỏ nhất của tấm nền: 0.5 mm đối với kim loại từ tính. (Tức để đo chính xác, tấm nền cần có một độ dày nhất định, nếu mỏng quá sẽ không đảm bảo tính phản xạ và kết quả đo sẽ ở một ngưỡng nào đấy.)
- Màn hình của máy: LCD 4 số. 11mm.
- Đơn vị đo lường: người sử dụng có thể chọn lựa μm – mils
- Hiệu chuẩn: tiêu chuẩn, lấy mẫu 1 & 2 điểm chuẩn.
- Thống kê: Tính toán từ maximum 9,999 giá trị đọc. Giá trị trung bình. Độ lệch tiêu chuẩn. Số giá trị đọc được (số lần lấy mẫu). Giá trị lớn nhất. Giá trị nhỏ nhất
- Kết nối máy tính: cổng USB
- Nguồn cung cấp: 03 cục pin AAA (tuổi thọ 10,000 lần đọc).
- Kích thước của máy đo lớp phủ: Máy đo chính: 70x122x32 mm. Cảm biến: ϕ 15mm x 62 mm. Trọng lượng: 225 gam.
- Nhiệt độ làm việc: Máy đo chính từ 0 oC đến 50 oC.
- Cảm biến: từ -10 oC đến 70 oC.
